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中國計量院發(fā)明專利獲得中國專利金獎

發(fā)布時間:2025-11-03 作者:文/圖:謝潔 來源:供稿 瀏覽:500

10月13日,第十四屆中國國際專利技術與產品交易會(CIPF 2025)在大連舉辦。會上,中國計量科學研究院(以下簡稱“中國計量院”)的發(fā)明專利“新型串并聯(lián)質譜裝置系統(tǒng)及其參數(shù)調節(jié)方法和使用方法”獲頒中國專利金獎。

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該專利由中國計量院前沿中心質譜團隊研發(fā)完成。團隊提出了一種全新的質譜裝置及高精度的分析方法,形成質譜系統(tǒng)設計方案、關鍵部件和整機等系列成果。這些成果應用于基礎研究和新型質譜儀研發(fā)推廣,取得良好的經濟社會效益。

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在實際應用中,該專利為國內多家知名企業(yè)的新產品研發(fā)提供核心技術。團隊依托此專利,研發(fā)出國際首套基于離子阱的臨床質譜儀,并推出全國產高端臨床質譜系統(tǒng)解決方案。其定量技術指標達到國際領先水平,獲得北京分析測試學術報告會暨展覽會(BCEIA)儀器金獎,有力促進我國高端科學儀器的自主發(fā)展。該專利的發(fā)明人為中國計量院研究員方向、熊行創(chuàng)、江游、黃澤建以及副研究員龔曉云。

據(jù)悉,中國專利獎于1989年由世界知識產權組織(WIPO)和國家知識產權局共同設立,設有中國專利金獎、銀獎、優(yōu)秀獎等類別,每屆評選出的金獎項目不超過30項。

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